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本文评估了低X射线照射（0.81gy）后1h和24h根际过程的反应，植物表型资讯介绍如下。
当下，无创x射线计算机断层扫描（XRCT）在根际研究中（如，对土壤-根原位发育进行可视化）的应用越来越广泛。然而，将根系暴露在X射线下可能会影响植株代谢和产物。为了评估该效应，本文观察了低X射线照射（0.81gy）后1h和24h根际过程的反应。
玉米在土壤柱中生长并重建XRCT根图像
根系土壤中微生物的生长和酶动力学参数
结果发现，暴露后1h，根基因表达模式发生改变，细胞壁、脂质代谢和细胞应激相关基因下调，但24h后无差异。在任何一个时间点，XRCT都不影响根抗氧化酶活性，也不影响根际细菌微生物组的组成和微生物生长参数。暴露后1h，亮氨酸氨基肽酶和磷酸单酯酶活性较低，但与对照组无显著差异。在低x射线照射（0.81Gy）后24小时，根际系统能够恢复x射线照射的任何影响。另外，本文数据还表明，在实施涉及XRCT的新实验设计之前，应该对其对研究过程的影响进行研究。
对玉米根际细菌群落结构的影响
来源：
GantheM,YimB,IbrahimZ,etal.CompatibilityofX-ray
